发明名称 ABNORMALITY DETECTOR
摘要 PURPOSE:To inspect a flaw formed on indicating plate by scanning a surface of sample with a laser light and surveying its diffraction light.
申请公布号 JPS52137388(A) 申请公布日期 1977.11.16
申请号 JP19760053272 申请日期 1976.05.12
申请人 HITACHI LTD 发明人 SHINDOU YASUHIKO
分类号 G01N21/88;G01N21/94 主分类号 G01N21/88
代理机构 代理人
主权项
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