发明名称 Semiconductor device manufacture
摘要 A method of directly etching an inverted-mesa semiconductor structure, wherein the mesa is first formed by shallow etching from the epitaxial layer surface and then undercut by preferentially etching the substrate more rapidly than the epitaxial layer.
申请公布号 US4028140(A) 申请公布日期 1977.06.07
申请号 US19750624726 申请日期 1975.10.22
申请人 U.S. PHILIPS CORPORATION 发明人 SUMMERS, JOHN GILBERT;PIERREPONT, MAURICE
分类号 H01L21/306;H01L21/00;H01L21/3063;H01L29/00;H01L29/864;(IPC1-7):H01L21/26 主分类号 H01L21/306
代理机构 代理人
主权项
地址