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经营范围
发明名称
SAMPLE ELECTRIFICATION PROTECTION DEVICE IN ELECTRON MICROSCOPES
摘要
申请公布号
JPS5226153(A)
申请公布日期
1977.02.26
申请号
JP19750101865
申请日期
1975.08.22
申请人
NIPPON ELECTRON OPTICS LAB
发明人
MIZUKAMI KATSUHIDE;SHIROTA KOUHEI
分类号
H01J37/20;H01J37/02
主分类号
H01J37/20
代理机构
代理人
主权项
地址
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