| 发明名称 |
(B1) ;METHOD OF AND SYSTEM FOR MEASUREMENT OF TIME CONSTANT OF THERMAL RELAXATION OF SEMICONDUCTOR DIODES |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
PL224349(A1) |
申请公布日期 |
1981.11.27 |
| 申请号 |
PL19800224349 |
申请日期 |
1980.05.19 |
| 申请人 |
PRZEMYSLOWY INST TELEKOMUN |
发明人 |
NIEMYJSKI WACLAW;NOWAK LESZEK |
| 分类号 |
G01R;G01R31/26;(IPC1-7):G01R/ |
主分类号 |
G01R |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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