发明名称 测试焊线热板构造
摘要 一种测试焊线热板构造,该热板构造主要包含一热板及一探针。该热板上表面供一基板放置,该热板上表面另设有该探针供抵触于该基板底表面之接地以形成一通路。当机台进行焊线时,该探针与焊线夹头经该晶片形成一回路,以方便机台送出讯号进行测试该导线是否通路。当机台侦测得焊线失败时,该机台停止进行焊线以减少不必要的后续焊线。
申请公布号 TW409945 申请公布日期 2000.10.21
申请号 TW088209189 申请日期 1999.06.02
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 王进成;冯耀信;陶恕
分类号 H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人 李长铭 台北巿中山区南京东路二段二十一巷八号二楼
主权项 1.一种测试焊线热板构造,该热板构造包含:一热板,其设有一孔,该热板供一晶片放置;及一探针,其设于该热板之孔内供抵触于该晶片底表面之接地焊垫;其中该探针连接至一测试系统,因而该测试系统与该基板形成一通路。2.依申请专利范围第1项所述之测试焊线热板构造,其中该测试焊线热板构造连接于该测试系统,该探针经由该导线测试得该讯号而形成焊线成功时,一焊线系统之焊线夹头切断导线,以便于进行下一次焊线,而该探针无法经由该导线测试得该讯号而形成焊线失败时,立即停止进行焊线以减少不必要的后续焊线。3.依申请专利范围第1项所述之测试焊线热板构造,其中该热板之孔内另包含一弹簧及一限位部,核弹簧位于该孔底部并抵推该探针底端,使该探针可弹性伸缩于该孔内,而该限位部位于该孔之开口并限制该探针顶端,使该探针可弹性伸缩于该孔内且不脱离该孔。4.依申请专利范围第1项所述之测试焊线热板构造,其中该探针底端以一弹片固定,而一螺丝则将核弹片锁固于该热板。图式简单说明:第一图:本创作第一较佳实施例之组合上视图;第二图:本创作第一较佳实施例第一图沿2-2线之剖面图;第三图:本创作第一较佳实施例第二图之局部放大图;及第四图:本创作第二较佳实施例第二图之局部放大图;及第五图:本创作第三较佳实施例第二图之局部放大图。
地址 高雄巿楠梓区加工出口区经三路二十六号