发明名称 System zum Messen einer dreidimensionalen Position
摘要 Es ist ein System zum Messen einer dreidimensionalen Position eines Messpunkts vorgesehen, das selbst bei geneigter Richtstange durch Anordnen des oberen Endes der Richtstange an dem Messpunkt durchführbar ist. Das System weist ein Vermessungsgerät 2 mit einem Bilderfassungsabschnitt 22, einem Abschnitt 20 zum Messen der Entfernung von einem Ziel 3, und einem Winkelmessabschnitt 11, 12, eine Richtstange 4, die auf dem Messpunkt X angeordnet ist und an einer von dem Messpunkt X um eine bekannte feste Strecke L versetzten Position das feste Prisma 3 aufweist, und eine mit einer Markierung 43 versehene Neigungsfolie 5, welche die Analyse eines Neigungswinkels in Bezug auf die Blickrichtung ermöglicht. Die dreidimensionale Position des Messpunkts X wird gemessen, indem die Neigungsfolie 5 an der Richtstange 4 angebracht wird, eine Markierungsfläche 41 im Bilderfassungsabschnitt 22 erfasst wird, der Neigungswinkel θx, θy der Neigungsfolie 5 in Beug auf die Blickrichtung des Vermessungsgeräts 2 durch eine Bildanalyse der Markierungsfläche 41 berechnet wird, und die dreidimensionale Position des Messpunkts X anhand der dreidimensionalen Position des Prismas 3, des Neigungswinkels der Neigungsfolie 5 und der festen Strecke L gemessen wird.
申请公布号 DE102016200967(A1) 申请公布日期 2016.07.28
申请号 DE201610200967 申请日期 2016.01.25
申请人 Kabushiki Kaisha TOPCON 发明人 Nishita, Nobuyuki;Kumagai, Kaoru
分类号 G01C15/00;G01B11/03;G01C1/00;G01C3/00;G01C11/00;G01C15/06 主分类号 G01C15/00
代理机构 代理人
主权项
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