Sonde für ein elektro-optisch abtastendes Oszilloskop

摘要

Eine Sonde für ein elektro-optisch abtastendes Oszilloskop wird zur Verfügung gestellt, welche es erlaubt, eine erhöhte Meßgenauigkeit beim Messen von Testmeßsignalen zu erhalten, indem die Temperatur eines elektro-optischen Elements derart gesteuert wird, daß diese konstant bleibt, so daß der Brechungsindex des elektro-optischen Elements sich nicht durch die Temperaturänderung ändert. Die Sonde für das elektro-optisch abtastende Oszilloskop umfaßt eine reflektierende Schicht an einem Ende und ein Metallstift ist auf der Oberfläche der reflektierenden Schicht vorgesehen, so daß die optische Eigenschaft der elektro-optischen Schicht sich gemäß einem elektrischen Fels ändert, welches durch den Metallstift aufgebracht wird. Die Sonde umfaßt weiterhin ein Temperaturerfassungsteil, welches derart angeordnet ist, daß es in Kontakt mit dem elektro-optischen Element steht, um die Temperatur des elektro-optischen Elementes zu erfassen und auszugeben und ein Temperatureinstellungsteil, welches derart angeordnet ist, daß dieses mit dem elektro-optischen Element gegenüber dem Temperaturerfassungsteil über das elektro-optische Element hinweg in Kontakt steht und ein Temperatursteuerungsteil, um das Temperatureinstellungsteil, in Abhängigkeit von dem Ergebnis der Temperaturerfassung, zu steuern.