| 发明名称 |
METHOD AND SYSTEM FOR PRODUCING TEST PATTERN FOR LOGIC CIRCUIT |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPH06342038(A) |
申请公布日期 |
1994.12.13 |
| 申请号 |
JP19940068677 |
申请日期 |
1994.04.06 |
| 申请人 |
NIPPON TELEGR & TELEPH CORP <NTT> |
发明人 |
TERAMOTO MITSUO |
| 分类号 |
G01R31/3183;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/3183 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
