发明名称 | 声波型接触检测装置 | ||
摘要 | 乱真波散射部件(50)的倾斜线(40、42)在基板(2)的上边缘(24)附近以互相反向的角度形成。该角度在基板(2)的部附近几乎成垂直,随着靠近基板(2)的端部而逐渐变化为小角度。另外,倾斜线(46、48)也同样以相反的斜率而形成,并且该角度逐渐变化。到达此区域的乱真波被这些倾斜线(40、42、46、48)乱反射并衰减,以使之不到达接收侧的转换器(12、14)。另外,矩形的乱真波散射部件(34、36、38)也是用以将传播于基板(2)的表面的乱真波乱反射并消除的部件,它由多根45°以外角度的平行的突条构成。 | ||
申请公布号 | CN1327329C | 申请公布日期 | 2007.07.18 |
申请号 | CN200380102975.5 | 申请日期 | 2003.11.11 |
申请人 | 接触板系统股份有限公司 | 发明人 | 田中芳和 |
分类号 | G06F3/043(2006.01) | 主分类号 | G06F3/043(2006.01) |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 杨凯;叶恺东 |
主权项 | 1.一种声波型接触检测装置(1),设有:具有声波传播表面的基板(2);声波生成部件(78,80);使产生的所述声波沿所述基板(2)的表面传播的反射阵列(18,22,28,32,33);检测出因在所述表面上的物体接触而造成的所述声波的变化的检测部件(12,14);以及用于确定上述物体的几何坐标的控制器;其特征在于:在所述基板(2)上形成乱真波散射部件(34,36,38,43,49),该乱真波散射部件包括用于使伴随所述声波的生成而生成的乱真波散射的扩散光栅。 | ||
地址 | 日本神奈川县横浜市 |