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发明名称
APPARATUS FOR INSPECTING APPEARANCE OF SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号
JPH02141606(A)
申请公布日期
1990.05.31
申请号
JP19880296521
申请日期
1988.11.24
申请人
MITSUBISHI ELECTRIC CORP
发明人
SENBA SHINJI
分类号
G01B21/00;B65G47/248;B65G47/52;B65G47/82;B65G47/90;G01N21/88;G01N21/956;H01L21/66
主分类号
G01B21/00
代理机构
代理人
主权项
地址
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