发明名称 |
光学拾取装置和光学再现方法 |
摘要 |
本发明提供一种光学拾取装置和光学再现方法。该光学拾取装置的检测单元包括:光学元件,从来自光学记录介质的光线中以分离状态分别提取具有不同偏振方向的多个特定光线;和光量测量单元,同时对通过该光学元件提取的多个特定光线中的各个特定光线进行光量测量。在再现信息时,在再现光被照射的情况中来自光学记录介质的反射光线或者通过再现光的照射而从光学记录介质发射的发射光线被发送至检测单元。光学元件分别以分离状态提取具有不同偏振方向的多个特定光线,光量测量单元同时对光学元件提取的多个特定光线中的各个特定光线进行光量测量,以及根据光量比率再现记录在光学记录介质上的信息。本发明可以以高S/N及高速度进行再现。 |
申请公布号 |
CN101162592A |
申请公布日期 |
2008.04.16 |
申请号 |
CN200710180143.5 |
申请日期 |
2007.10.10 |
申请人 |
船井电机株式会社 |
发明人 |
伊藤绅三郎;大北英生;辨天宏明;长岛贤治;竹田亨 |
分类号 |
G11B7/13(2006.01);G11B7/135(2006.01) |
主分类号 |
G11B7/13(2006.01) |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 |
代理人 |
王玉双 |
主权项 |
1.一种光学拾取装置,其包括检测单元,该检测单元接收来自光学记录介质的光线并检测记录在该光学记录介质上的信息,其中该检测单元包括光学元件和光量测量单元,该光学元件同时从来自该光学记录介质的光线中以分离状态分别提取具有不同偏振方向的多个特定光线,该光量测量单元同时对通过该光学元件提取的多个特定光线中的各个特定光线进行光量测量。 |
地址 |
日本大阪府大东市 |