发明名称 |
采样和运送设备及方法 |
摘要 |
本发明公开一种用于对颗粒污染物进行采样的设备(1),其可以适用于多种密闭外壳并允许对存在于所述外壳的大气中的污染物和/或污染物质进行表面采集。利用该采样方法,能够获得与其性状相关的具体信息。具体地,所述采样设备(1)包括支撑件(2),基底(6)可定位在其上用于采集样品。设备(1)实现为隔离所获取的样品,直到到达分析地点,以便提高测量特性。 |
申请公布号 |
CN101163953A |
申请公布日期 |
2008.04.16 |
申请号 |
CN200680013792.X |
申请日期 |
2006.04.28 |
申请人 |
原子能委员会 |
发明人 |
伊莎贝尔·托韦纳-佩科;帕特里克·马纳克;斯特凡妮·帕尔米耶 |
分类号 |
G01N1/22(2006.01) |
主分类号 |
G01N1/22(2006.01) |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 |
代理人 |
张文;魏金霞 |
主权项 |
1.一种用于对颗粒进行采样的设备(1),包括:采样支撑件(2),其设置有用于定位至少一个采样基底(6)的定位装置(8);和纵向封套(4),所述采样支撑件(2)能够在纵向封套(4)中沿着所述设备(1)的轴线(AA)在第一采样位置和第二封闭位置之间滑动,在所述第一采样位置,所述定位装置(8)位于所述封套(4)外部,在所述第二密封位置,所述支撑件(2)位于所述封套(4)内并且所述设备(1)绕所述用于定位基底(6)的装置(8)密封,其中,所述支撑件(2)和所述封套(4)由在它们相对于彼此滑动时产生极少碎屑的材料构成,使得进行采样的外部环境中的ISO 14644-1标准中所规定的灰尘等级不会由滑动产生的颗粒污染改变。 |
地址 |
法国巴黎 |