发明名称 一种测试面纵横设置有V形长槽的测试针
摘要 本实用新型公开了一种测试面纵横设置有V形长槽的测试针,包括限位测试体、设置在限位测试体一端的定位柱、以及设置在所述限位测试体另一端的安装固定杆,所述安装固定杆的端部径向贯穿设置过线孔,所述限位测试体、所述定位柱及所述安装固定杆同轴一体设置,所述限位测试体的测试面上纵横凹设有V形长槽,同向设置的所述V形长槽的相邻侧壁相交设置,且所述限位测试体的直径分别大于所述定位柱及所述安装固定杆的直径。采用此结构设计的测试针,在测试时可通过测试面上的V形长槽所形成的定位凸起,在压力作用下插设于焊盘上的锡珠内,使得与锡珠有效结合,进而提高导通测试稳定性。本实用新型能够满足小间距测试需求,且测试稳定可靠。
申请公布号 CN205374527U 申请公布日期 2016.07.06
申请号 CN201521028596.2 申请日期 2015.12.14
申请人 深圳市新富城电子有限公司 发明人 钟兴彬
分类号 G01R1/067(2006.01)I;G01R31/02(2006.01)I 主分类号 G01R1/067(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种测试面纵横设置有V形长槽的测试针,其特征在于,包括限位测试体、设置在限位测试体一端的定位柱、以及设置在所述限位测试体另一端的安装固定杆,所述安装固定杆的端部径向贯穿设置过线孔,所述限位测试体、所述定位柱及所述安装固定杆同轴一体设置,所述限位测试体的测试面上纵横凹设有V形长槽,同向设置的所述V形长槽的相邻侧壁相交设置,且所述限位测试体的直径分别大于所述定位柱及所述安装固定杆的直径。
地址 广东省深圳市宝安区松岗镇大田洋工业区汉海达H栋10楼