发明名称 |
过程校验仪及其设计方法 |
摘要 |
本发明公开了一种过程校验仪及其设计方法。它由输入通道、输出通道、基准电压、恒流源、控制、键盘、显示、通信和存储单元组成。过程校验仪输入、输出通道具有不同的设计精度,输入通道按高精度指标设计,并用超高精度的过程认证校正设备标定,建立标定基准表;输出通道则按降级精度指标设计,输出通道按降级精度指标设计有助于降低过程校验仪成本,提高成品率,而输出通道的精度则借助高精度输入通道和标定基准表,采用实时闭环反馈校正技术加以提升,使过程校验仪具有高性价比和高精度。基准融合的自校正技术,有效克服了过程校验仪测量通道因时间漂移、温度漂移等因素导致的不确定性,确保过程校验仪具有长期的高精度和高稳定性。 |
申请公布号 |
CN101339815A |
申请公布日期 |
2009.01.07 |
申请号 |
CN200810063482.X |
申请日期 |
2008.08.14 |
申请人 |
浙江大学;丁程 |
发明人 |
邵旭敏;仲玉芳;周平;丁程;吴明光 |
分类号 |
G12B13/00(2006.01);G01D18/00(2006.01) |
主分类号 |
G12B13/00(2006.01) |
代理机构 |
杭州求是专利事务所有限公司 |
代理人 |
张法高 |
主权项 |
1.一种过程校验仪,其特征在于过程校验仪包括微处理器、LCD显示器、存储器、通信接口、键盘、测量/输出选择模块、参数类型选择模块、电压基准模块、恒流源模块、输入通道ADC模块、输出通道DAC模块、输出通道至输入通道反馈模块,微处理器分别与LCD显示器、存储器、通信接口、键盘、输入通道ADC模块、输出通道DAC模块相连接,输出通道DAC模块分别与参数类型选择模块、恒流源模块、输出通道至输入通道反馈模块相连接,输入通道ADC模块分别与参数类型选择模块、电压基准模块、恒流源模块、输出通道至输入通道反馈模块相连接,参数类型选择模块与测量/输出选择模块相连接。 |
地址 |
310027浙江省杭州市浙大路38号 |