| 摘要 |
【課題】Ｘ線発生源からの熱による影響を抑制し、熱の影響を受けやすい回路構成部材をＸ線発熱源と同じ収納空間に配置することを可能としたＸ線検査装置を提供する。【解決手段】筐体１０に、上部収納空間１１が設けられ、その内部に冷却容器３０に収納されたＸ線発生源３２が設けられている。冷却容器３０と放熱器３３との間で冷却溶媒がポンプ３６の圧力で循環し、冷却容器３０の温度上昇が抑制される。上部収納空間１１に冷却容器３０が設けられているため、上部収納空間１１そのものが冷却空間となり、温度が上昇しにくくなる。よって、上部収納空間１１に、熱の影響を受けやすい回路構成部材や発熱性の回路構成部材を配置できるようになる。【選択図】図３ |
