摘要 |
resumo patente de invenção: "aparelho e método para estimativa de litologia de formação utilizando fluorescência de raios x". a presente invenção refere-se a um aparelho para estimativa de propriedades de uma formação terrestre, que inclui um portador configurado para ser disposto em um furo na formação terrestre, e um recuperador de amostra configurado para remover uma amostra da formação terrestre, a amostra incluindo componentes sólidos da formação terrestre. o aparelho também inclui um conjunto de análise incluindo uma câmara disposta com o portador e configurada para manter a amostra, uma fonte de raios x configurada para irradiar a amostra com radiação de raios x enquanto a amostra é disposta na câmara, e um ou mais detectores de raios x configurados para detectar a radiação emitida a partir da amostra em resposta à irradiação da fonte de raios x. |