| 发明名称 |
IC-MOUNTING AND TESTING METHOD AND ITS STRUCTURE |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPH1146059(A) |
申请公布日期 |
1999.02.16 |
| 申请号 |
JP19970198736 |
申请日期 |
1997.07.24 |
| 申请人 |
NEC YAMAGATA LTD;RYOWA DENSHI KK |
发明人 |
MEGURO JUNICHI;MIURA HITOSHI |
| 分类号 |
H01L21/66;H01L23/12;H05K1/11;H05K1/18;H05K3/00;H05K3/34;(IPC1-7):H05K3/34 |
主分类号 |
H01L21/66 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
