发明名称 スパッタリング及び再スパッタリングのための自己イオン化したプラズマ及び誘導結合したプラズマ
摘要 The present invention discloses a magnetron sputtering reactor (410) and a method of use thereof, wherein, SIP sputtering and ICP sputtering are promoted, and further discloses an auxiliary magnet array positioned towards a jamb wall (414) at the side of wafers from a target along the magnetron sputtering reactor.For the magnetron (436), a small magnetron which is provided with a weaker inner magnetic pole (440) encompassing a second magnetic pole and a stronger outer magnetic pole (442) of a first magnetic pole is preferably adopted, with all the magnetic poles in yoke (444) rotates around aventricular shaft (438) by adopting a rotary mechanism (446, 448, 450).For the auxiliary magnet (462), a magnet provided with the first magnetic polarity to drag an unbalanced magnetic field (460) towards the wafers (424) is preferably adopted, with the wafers arranged on a base plate (422) to which a power (454) is supplied. A getting-through valve (428) is used for supplying argon (426), and a power (436) is supplied to the target (416).
申请公布号 JP5960087(B2) 申请公布日期 2016.08.02
申请号 JP20130082450 申请日期 2013.04.10
申请人 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドAPPLIED MATERIALS,INCORPORATED 发明人 ディン,ペイジュン;タオ, ロン;シュー, ゼン;ルーベン, ダニエル, シー.;レンガラジャン, サラジ;ミラー, マイケル, エー.;サンダーラジャン, アルヴァンド;タン, シャンミン;フォースター, ジョン, シー.;フ, ジャンミン;モゼリー, ロデリック, シー.;チェン, フセン;ゴパルラジャ, プラバラム
分类号 C23C14/34;C23C14/35;C25D5/02;H01L21/28;H01L21/285;H01L21/3205;H01L21/768;H01L23/532 主分类号 C23C14/34
代理机构 代理人
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