发明名称 |
存储器单元失效检测方法与系统 |
摘要 |
本发明提供一种存储器单元失效检测方法与系统,将存储器单元中每一位设为初始数码,并读出存储器单元中每一位的内容,将存储器单元中每一位的内容从初始数码修改为变反数码,当其他存储器单元中每一位的内容未发生改变时,读出存储器单元中每一位的内容,检测存储器单元中每一位的内容是否修改准确,当修改准确时,再次将存储器单元中每一位的内容修改,再次检测存储器单元中每一位的内容是否修改准确,当修改准确时,表明存储器单元正常。整个过程,能够检测可能发生的存储器单元转换故障以及对周边存储器单元数据操作引发的单个存储器单元的耦合故障,能够准确检测存储器单元是否失效。 |
申请公布号 |
CN105702299A |
申请公布日期 |
2016.06.22 |
申请号 |
CN201511030997.6 |
申请日期 |
2015.12.30 |
申请人 |
工业和信息化部电子第五研究所;南方电网科学研究院有限责任公司 |
发明人 |
刘奕宏;杨春晖;黄晓昆;陈华军;罗银;张宝林;王剑亮;陈立明 |
分类号 |
G11C29/44(2006.01)I;G11C29/38(2006.01)I;G11C29/00(2006.01)I |
主分类号 |
G11C29/44(2006.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
李巍 |
主权项 |
一种存储器单元失效检测方法,其特征在于,包括步骤:将存储器单元中每一位设为初始数码,并读出所述存储器单元中每一位的内容;将所述存储器单元中每一位的内容从所述初始数码修改为变反数码;检测其他存储器单元中每一位的内容是否发生改变,当发生改变时,表明所述存储器单元已失效,当未发生改变时,读出所述存储器单元中每一位的内容;检测所述存储器单元中每一位的内容是否修改准确,当修改不准确时,表明所述存储器单元已经失效,当修改准确时,再次将所述存储器单元中每一位的内容由所述变反数码修改为初始数码,再次检测所述存储器单元中每一位的内容是否修改准确,当修改不准确时,表明所述存储器单元已经失效,当修改准确时,表明所述存储器单元正常;其中,所述初始数码和所述变反数码分别包括二进制中两个不同的数码。 |
地址 |
510610 广东省广州市天河区东莞庄路110号 |