发明名称 ピット欠陥が軽減されたIII−V族半導体構造体およびその形成方法
摘要 Embodiments relate to semiconductor structures and methods of forming them. In some embodiments, the methods may be used to fabricate semiconductor structures of III-V materials, such as InGaN. An In-III-Vsemiconductor layer is grown with an Indiumconcentration above a saturation regime by adjusting growth conditions such as a temperature of a growth surface to create a super-saturation regime wherein the In-III-V semiconductor layer will grow with a diminished density of V-pits relative to the saturation regime.
申请公布号 JP5961633(B2) 申请公布日期 2016.08.02
申请号 JP20130553951 申请日期 2012.02.17
申请人 ソイテック 发明人 クリストフ フィゲ;エド リンドウ;ピエール トマシニ
分类号 H01L21/205;C23C16/34 主分类号 H01L21/205
代理机构 代理人
主权项
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