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发明名称 Verfahren zur Verwendung beim Trimmen, Halbleiter-Bauelement-Test-Gerät zum Durchführen des Verfahrens und Halbleiter-Bauelement-Test-System
摘要
申请公布号 DE10243603(B4) 申请公布日期 2007.04.19
申请号 DE20021043603 申请日期 2002.09.19
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 MUELLER, GEORG
分类号 G01R31/28;G01R31/16;G01R31/26;G01R31/317;G01R31/3185;G01R31/319;G11C29/00;G11C29/02;G11C29/56 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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