| 摘要 |
Es ist eine schematische Darstellung eines Flussdiagramms eines Verfahrens 200 zur leckstromkompensierten Widerstandsmessung gezeigt. Das Verfahren umfasst einen Schritt 205, in dem eine erste Spannung der ersten Spannungsquelle an den ersten Anschluss des Widerstands angelegt wird, und einen Schritt 210, in dem eine zweite Spannung, die sich von der ersten Spannung unterscheidet, der zweiten Spannungsquelle an dem zweiten Anschluss des Widerstands angelegt wird. Im Anschluss wird in Schritt 215 ein erster Stromfluss zwischen der ersten Spannungsquelle und dem ersten Anschluss des Widerstands gemessen In einem Schritt 220 wird die zweite Spannungsquelle 15 nach dem Messen des ersten Stromflusses 45 derart eingestellt, dass die zweite Spannung 35' einen sich von dem vorigen Spannungswert unterscheidenden Spannungswert aufweist. In Schritt 225 wird nun ein zweiter Stromfluss zwischen der ersten Spannungsquelle und dem ersten Anschluss des Widerstands gemessen. Basierend auf den beiden Messungen wird in Schritt 230 der Widerstandswert des Widerstands basierend auf einem, durch den zweiten Stromfluss kompensierten ersten Stromfluss berechnet. |
