发明名称 P-I-N半导体二极管及其形成方法
摘要 在半导体衬底上形成一种具有高纵横比的柱形p-i-n二极管的装置。通过在位于所述柱的每个末端处的P+区域与N+区域之间的本征或轻掺杂的区域(i区域)形成每一个器件。所述p-i-n二极管的装置被嵌入在光学透明介质中。对于给定的表面面积,所述柱p-i-n二极管的装置比常规平面p-i-n二极管吸收更多的光能量。以阵列形式配置所述p-i-n二极管以使从一个p-i-n二极管反射的光子被邻近第一个p-i-n二极管的另一个p-i-n二极管所俘获和吸收,从而优化能量转换的效率。
申请公布号 CN100568516C 申请公布日期 2009.12.09
申请号 CN200710149300.6 申请日期 2007.09.11
申请人 国际商业机器公司 发明人 许履尘;J·A·曼德尔曼;程慷果
分类号 H01L27/144(2006.01)I;H01L21/822(2006.01)I 主分类号 H01L27/144(2006.01)I
代理机构 北京市中咨律师事务所 代理人 于 静;李 峥
主权项 1.一种半导体器件,包括至少第一和第二p-i-n二极管,所述第一和第二p-i-n二极管具有位于在n掺杂的区域和p掺杂的区域之间的中间本征区域并被成形为柱,其中被所述第一p-i-n二极管反射的光能量被所述第二p-i-n二极管吸收,以阵列配置的形式设置所述至少两个p-i-n二极管,其中所述阵列的表面效率由公式(1)给出:mπ/(n)2>1 (1)其中m=h/r,柱高度(h)与其半径(r)的比率,n是柱中心到中心的距离(d)与其半径的比率。
地址 美国纽约