| 摘要 |
【課題】漏れ光の影響を極力低減し高Ｓ／Ｎで所望の波長の分光画像を取得可能な分光画像取得装置の提供。【解決手段】一対の光学基板同士の面間隔及び角度のいずれかを変えて分光特性が可変の分光素子１と、分光素子１が透過させる光の波長を設定する透過波長設定部２と、設定部２を介して設定された波長の近傍に透過ピークが存在する分光特性に分光素子１を制御する第１の制御と被写体１０からの光を構成する波長帯域内に透過ピークを存在させない分光特性に分光素子１を制御する第２の制御とを一対の光学基板同士の面間隔及び角度を変化させることで切替える分光素子制御部３と、分光素子１を透過した光の画像を取得する画像取得部４と、制御部３による第１の制御の際に取得部４が取得した第１の画像と制御部３による第２の制御の際に取得部４が取得した第２の画像との差分を取得する画像補正処理部５とを備えている。【選択図】図１ |
