发明名称 Ein- und Ausgangsschaltung eines integrierten Schaltkreises, Verfahren zum Testen eines integrierten Schaltkreises sowie integrierter Schaltkreis mit einer solchen Ein- und Ausgangsschaltung
摘要 Ein- und Ausgangsschaltung eines integrierten Schaltkreises mit den folgenden Merkmalen: – wenigstens ein Signalanschluss (PAD) ist zur externen Kontaktierung vorgesehen, – für jeden Signalanschluss (PAD) ist eine Schutzschaltung (ESD) vorgesehen, – für jeden Signalanschluss (PAD) ist je ein Eingangstreiber (IN) und/oder je ein Ausgangstreiber (OUT) vorgesehen, die jeweils über die Schutzschaltung (ESD) mit dem betreffenden Signalanschluss (PAD) verbunden sind, – für wenigstens einen Signalanschluss (PAD) ist wenigstens eine Zusatzschaltung (22; 31; 41; 51) vorgesehen, deren erster Eingang über die Schutzschaltung (ESD) mit dem Signalanschluss (PAD) verbunden ist und an deren Ausgang ein Testwert für die Funktion der Ein- und Ausgangsschaltung (2–5) anliegt, – wobei die Ein- und Ausgangsschaltung über einen Pull-Up-Transistor (PU) und über einen Pull-Down-Transistor (PD) verfügt und der Pull-Up-Transistor (PU) und der Pull-Down-Transistor (PD) jeweils mit einer Spannungsversorgungsleitung (VDDp, VSSp) verbunden sind, und für den Pull-Up-Transistor (PU) und für den Pull-Down-Transistor (PD) je ein Schalter (S1, S2) vorgesehen ist, mit dem der Pull-Up-Transistor (PU) und der Pull-Down-Transistor (PD) zwischen der betreffenden Spannungsversorgungsleitung (VDDp, VSSp) und einer Referenzspannungsleitung (VDDPU, VDDPD) hin- und herschaltbar sind.
申请公布号 DE10355116(B4) 申请公布日期 2016.07.14
申请号 DE2003155116 申请日期 2003.11.24
申请人 Infineon Technologies AG 发明人 Arnold, Ralf;Oberle, Hans-Dieter;Glas, Martin;Müller, Christian
分类号 G01R31/3181;G01R31/3185;G11C29/00 主分类号 G01R31/3181
代理机构 代理人
主权项
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