发明名称 The probe pin with overcurrent protection
摘要 본 발명은 프로브핀의 내부에 과전류가 인가되면 단락되거나 또는 흡수하는 보호수단을 내장하여 프로브핀으로 과전류가 흐르지 않도록 함으로써, 고가의 검사장비 및 검사용 회로기판을 보호할 수 있는 과전류 차단기능을 갖는 프로브핀에 관한 것이다. 이를 위하여 본 발명은 얇은 시트에 슬리브, 상부접촉부, 탄성부 및 하부접촉부를 다단계로 프레스펀칭한 뒤 상기 슬리브를 원통으로 벤딩하고, 상기 상부접촉부, 탄성부 및 하부접촉부를 원통으로 벤딩하여 상기 슬리브에 내장한 과전류 차단기능을 갖는 프로브핀에 있어서, 상기 상부접촉부와 상기 탄성부는 서로 떨어져서 상기 시트상에 펼친상태로 구비되고, 상기 상부접촉부 및 상기 탄성부는 원통으로 벤딩하기 전에 이들 사이에 과전류를 차단하거나 또는 흡수하는 보호수단이 구비되며, 상기 슬리브에는 상기 상부접촉부 및 상기 보호수단을 감싸는 부도체가 코팅되어서 전류가 상기 상부접촉부에서 상기 보호수단을 거쳐 상기 탄성부 및 하부접촉부로 향하도록 한 특징이 있다.
申请公布号 KR20160131544(A) 申请公布日期 2016.11.16
申请号 KR20150064102 申请日期 2015.05.07
申请人 C2WIDE CO., LTD. 发明人 RYU, DEOK SU
分类号 G01R1/067;H02H3/08 主分类号 G01R1/067
代理机构 代理人
主权项
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