发明名称 |
基于自参考波前传感器和连续表面变形镜的自适应光学系统 |
摘要 |
基于自参考波前传感器和连续表面变形镜的自适应光学系统,由波前校正器,基于Mach-Zehnder干涉法的自参考波前传感器和工控机组成,光束首先通过波前校正器后,反射进入基于Mach-Zehnder干涉法的自参考波前传感器,基于Mach-Zehnder干涉法的自参考波前传感器探测到的波前信息经过工控机一次矩阵运算后直接输出控制电压到波前校正器进行闭环。波前校正器采用独立单元连续表面变形镜有较快的响应速度,波前探测器运用干涉原理,具有较高的空间分辨率和探测精度,这样可以极大提高基于干涉波前探测器的自适应光学系统的波前校正性能,扩大了这种自适应光学系统的应用领域,优越性明显。 |
申请公布号 |
CN101055348A |
申请公布日期 |
2007.10.17 |
申请号 |
CN200710099702.X |
申请日期 |
2007.05.29 |
申请人 |
中国科学院光电技术研究所 |
发明人 |
饶长辉;林衡;鲜浩 |
分类号 |
G02B26/06(2006.01) |
主分类号 |
G02B26/06(2006.01) |
代理机构 |
北京科迪生专利代理有限责任公司 |
代理人 |
贾玉忠;卢纪 |
主权项 |
1、基于自参考波前传感器和连续表面变形镜的自适应光学系统,其特征在于:由波前校正器,基于Mach-Zehnder干涉法的自参考波前传感器和工控机组成,光束首先通过波前校正器后,反射进入基于Mach-Zehnder干涉法的自参考波前传感器,基于Mach-Zehnder干涉法的自参考波前传感器探测到的波前信息经过工控机一次矩阵运算后直接输出控制电压到波前校正器进行闭环。 |
地址 |
610209四川省双流350信箱 |