发明名称 |
具有凹入型控制栅电极的半导体存储器及其制造方法 |
摘要 |
本发明提供了一种具有高操作速度并获得高集成度的半导体存储器,以及制造其的经济方法。该器件包括半导体衬底和凹入到半导体衬底内的控制栅电极。存储节点层设置在控制栅电极的侧壁与半导体衬底之间,且隧穿绝缘层设置在存储节点层与半导体衬底之间。阻挡绝缘层设置在存储节点层与控制栅电极之间。第一和第二沟道区隧穿绝缘层下面的半导体衬底的表面周围形成,从而围绕控制栅电极,并被一对相对的分隔绝缘层分开。 |
申请公布号 |
CN101079444A |
申请公布日期 |
2007.11.28 |
申请号 |
CN200610169306.5 |
申请日期 |
2006.12.13 |
申请人 |
三星电子株式会社 |
发明人 |
朴允童;具俊谟;赵庆来 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01);H01L29/423(2006.01);H01L27/115(2006.01);H01L21/336(2006.01);H01L21/8247(2006.01) |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01) |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
陶凤波 |
主权项 |
1、一种半导体存储器,包括:半导体衬底;控制栅电极,凹入到所述半导体衬底内;存储节点层,设置在所述控制栅电极侧壁与半导体衬底之间;隧穿绝缘层,设置在所述存储节点层与半导体衬底之间;阻挡绝缘层,设置在所述存储节点层与控制栅电极之间;和第一和第二沟道区,围绕所述隧穿绝缘层下面的所述半导体衬底的表面形成,以围绕所述控制栅电极,并被一对彼此面对的分隔绝缘层所分开。 |
地址 |
韩国京畿道 |