发明名称 Method of measuring aberration in an optical imaging system
摘要
申请公布号 EP1128217(B1) 申请公布日期 2007.08.29
申请号 EP20010301571 申请日期 2001.02.21
申请人 ASML NETHERLANDS B.V. 发明人 VAN DER LAAN, HANS;MOERS, MARCO HUGO PETRUS
分类号 G03F7/20 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人
主权项
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