发明名称 |
一种测试探针 |
摘要 |
一种测试探针,包括针套和探针针体,所述探针针体的前部为用于接触测试点的探测头,所述探针针体的后部装于所述针套的头部,所述针套的尾部通过导线与测试机相连接,所述的针套上设有一圈凸起。所述针套的头部设有插接所述探针针体的插槽,将所述的探针针体的后部插于所述针套的头部,所述探针针体的探测头接触测试点,所述针套的尾部通过导线与测试机连接起来。所述的凸起在针套上的位置根据不同测试点的实际情况而定,当测试的印刷电路板及芯片上的测试点高低不一时,可以根据测试点的高低来选择相应的针套,将针套安装在测试探针的安装板上的相应位置,从而可以测试高低不一的测试点。 |
申请公布号 |
CN201359614Y |
申请公布日期 |
2009.12.09 |
申请号 |
CN200920114181.5 |
申请日期 |
2009.02.26 |
申请人 |
沈芳珍 |
发明人 |
沈芳珍;周燕明 |
分类号 |
G01R1/067(2006.01)I;G01R1/073(2006.01)I |
主分类号 |
G01R1/067(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1.一种测试探针,包括针套和探针针体,所述探针针体的前部为用于接触测试点的探测头,所述探针针体的后部装于所述针套的头部,所述针套的尾部通过导线与测试机相连接,其特征在于:所述的针套上设有一圈凸起。 |
地址 |
315336浙江省慈溪市慈溪经济开发区浦东村浦东 |