发明名称 一种测试探针
摘要 一种测试探针,包括针套和探针针体,所述探针针体的前部为用于接触测试点的探测头,所述探针针体的后部装于所述针套的头部,所述针套的尾部通过导线与测试机相连接,所述的针套上设有一圈凸起。所述针套的头部设有插接所述探针针体的插槽,将所述的探针针体的后部插于所述针套的头部,所述探针针体的探测头接触测试点,所述针套的尾部通过导线与测试机连接起来。所述的凸起在针套上的位置根据不同测试点的实际情况而定,当测试的印刷电路板及芯片上的测试点高低不一时,可以根据测试点的高低来选择相应的针套,将针套安装在测试探针的安装板上的相应位置,从而可以测试高低不一的测试点。
申请公布号 CN201359614Y 申请公布日期 2009.12.09
申请号 CN200920114181.5 申请日期 2009.02.26
申请人 沈芳珍 发明人 沈芳珍;周燕明
分类号 G01R1/067(2006.01)I;G01R1/073(2006.01)I 主分类号 G01R1/067(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 1.一种测试探针,包括针套和探针针体,所述探针针体的前部为用于接触测试点的探测头,所述探针针体的后部装于所述针套的头部,所述针套的尾部通过导线与测试机相连接,其特征在于:所述的针套上设有一圈凸起。
地址 315336浙江省慈溪市慈溪经济开发区浦东村浦东