发明名称 Halbleiterspeichereinheit mit Temperaturfühleinrichtung und deren Betrieb
摘要 Thermofühler zur Verwendung in einer Halbleiterspeichereinrichtung, der Folgendes aufweist: eine Temperaturfühleinheit (100) zum Fühlen einer Temperatur als Reaktion auf ein Ansteuersignal (ODTS_EN), eine Speichereinheit zum Speichern von Ausgängen der Temperaturfühleinheit (100) und zum Ausgeben von Temperaturwerten; und eine Initialisiereinheit (400) zum Erzeugen eines Periodensignals (B), das während einer Aktivierung eines Ausgangssignals (A) hin und herwechselt, wobei das Periodensignal (B) als Reaktion auf ein Ansteuersignal (ODTS_EN) aktiviert wird, zum Zählen einer Anzahl Aktivierungen des Periodensignals (B), und zum periodischen Initialisieren der Speichereinheit wenn die Anzahl der Aktivierungen eine vorgegebene Anzahl erreicht.
申请公布号 DE102006061753(B4) 申请公布日期 2016.12.01
申请号 DE20061061753 申请日期 2006.12.28
申请人 Hynix Semiconductor Inc. 发明人 Kim, Kyung-Hoon;Moran, Patrick B.
分类号 G11C5/00;G01K7/00;G11C7/04 主分类号 G11C5/00
代理机构 代理人
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