具有内部串列资料路线之记忆装置的测试法

摘要

在具有内部串列资料路线之记忆装置的测试法中，储存在随机存取中的资料乃经由串列资料路线来提供，而经由一列资料路线存取之资料则和型式暂存器之型式资料相比较，如此可防止记忆装置晶片大小的增加，而且依据现行之发明和随意测试型式比较的自行测试也是可行的。