发明名称 扫描探针显微镜
摘要 一种扫瞄探针显微镜,包含:其前端处配备有探针尖端的探针1、由压电振动体2和AC电压产生部分3所组成的振动施加部分、由石英振荡器4和电流/电压放大器电路5所组成的振动检测部分、将探针带至接近样品表面所用的粗位移机构6、由Z微位移元件11和Z伺服电路12所组成的样品至探针之距离控制机构、由XY微位移元件13和XY扫瞄电路14所组成的二维扫瞄机构、与将量测之讯号转换成三维影像所用的资料处理机构15。弹性体16之弹簧压力将探针1固持于石英振荡器4。参见第1图。
申请公布号 TW371717 申请公布日期 1999.10.11
申请号 TW087105150 申请日期 1998.04.04
申请人 精工电子有限公司 发明人 田英介
分类号 G01R27/26 主分类号 G01R27/26
代理机构 代理人 林志刚
主权项 第四图
地址 日本