利用低速测试机台测试高速USB传输晶片之方法及其相关测试电路

摘要

一种利用低速测试机台测试高速USB传输晶片之方法及其相关测试电路，该方法包含下列步骤：提供低速时脉讯号以及第一并列资料给该高速USE传输晶片；该高速USB传输晶片将该第一并列资料转换成符合USB高速传输规格之序列讯号，而序列地传输给参考USB传输晶片；该参考USB晶片将所接收之该序列讯号转换成第二并列资料；以及藉由比对该第一并列资料及该第二并列资料是否相同而判断该高速USB传输晶片之USB高速传输是否正常。