| 主权项 |
1﹒于一种用以藉样品之光密度分析样品中物质浓 度 之光谱分析测量系统中,校准装置包含:分别用 来接收一光源之辐射能与由该光源送出并通过该 样品之幅射能之第一及第二光探测器;连至装光 探测器俾提供一以装第一与第二探测器之输出之 比例为函数之输出之比例装置;可许划电压源; 与来自该比例电路及来自该可计划电压源之输出 耦连俾将该等输出相加之相加放大器装置;将代 表该相加放大器之输出之一输出测量装置;耦连 于该可计划电压源与该测量装置之间之可计划增 益放大器;连至该测量装置并提供输出以将该可 计划电压源及该可计划增益放大器加以计划之控 制装置;空白型式选择装置,供用于当一空白样 品置于该光源与该第二光探测器之间时,将该控 制装置连接俾将该可计划增益放大器之增益设置 于一预先选定之位准,以及提供一计划信号给该 可计划电压源;该控制装置更包含一提供代表所 要空白置之输出与该空白位准装置之输出作比较 并提位准之数値之空白位准装置;用于将该相加 装供该计划信号以将该数値与该相加装置之输出 间之误差降至一预定位准以下之比较装置;以及 ,于一未知样品置于该光源与该第二光探测器间 之操作型式中,将该计划信号保持并送至该可计 划电压源之装置。 2﹒如请求专利部份第1项所述之装置,更包含:校 准型式选择装置,供用于当一参考样品置于该光 源与该第二光探测器之间时,将该控制装置连接 俾将该计划信号提供给该可计划电压源,以及决 定一增益控制信号给该可计划增益放大器;该控 制装置更包含储存装置,此储存装置用以储存代 表将响应于该参考样品之置于该光源与该第二光 探测器之间而由该测量装置获得之所要信号之预 设値,而且,其中该比较装置更包含用于将该测 量装置之输出与该预设値作比较并提供该增益控 制信号以将该测量装置之输出与该所要信号间之 差降至一预定位准以下之比较装置,以及,于一 操作型式中将该增益控制信号保持并送至该可计 划增益放大器之装置,藉此,该测量系统之析度 乃被改进。 3﹒如请求专利部份第2项所述之装置,其中,该比 例电路包含一还辑比例电路。 4﹒如请求专利部份第3项所述之装置,其中,该空 白位准装置包含用于提供一代表类比接地之数値 之装置。 5﹒如请求专利部份第4项所述之装置,包含:多数 个第一及第二光探测器,各对第一及第二光探测 器与一分道关联,用于将分道输出拚组至该比例 电路之第一多工装置,与该第一多工装置同步之 第二多工装置,该第二多工装置分别于空白型式 与校准型式中操作时操作该控制电路,俾个别处 理该测量装置之输出,以产生该计划信号及增益 控制信号给各分道。 6﹒如请求专利部份第5项所述之装置,其中,该控 制装置更包含储存各分道之各计划信号与增益控 制信号用之储存装置。 7﹒如请求专利部份第6项所述之装置,其中,该控 制装置更包含与该第一多工装置同步之接近与多 工装置,供用于当操作型式中接近对应分道之计 划及增益控侧信号,该分道用之输出系由第一及 第二光探测器提供至该比例电路,以及,供用于 分别将该计划及增异控制信号耦连至该可计划电 压源及可计划增益放大器;而且进一步包含消除 装置,供将该计划及增益控制信号消除,俾能够 将对应于另一分道之计划及增益控制信号送至该 可计划电压源及该可计划增益放大器。 8﹒如请求专利部份第7项所述之装置,其中,该测 量装置包含一类比一至一数位变换器,俾将输出 信号送至一数位记录器。 9﹒如请求专利部份第8项所述之装置,其中,该可 计划电压源包含数位一至一类比变换器而且该计 划信号包含一数位或单语,其各数元连至该数位 一至一类比变换器之连续阶级。 |
