发明名称 金属氧化物半导体场效电晶体制造方法
摘要
申请公布号 TW062394 申请公布日期 1984.11.01
申请号 TW073101815 申请日期 1984.06.08
申请人 美国无线电公司 发明人 艾弗列 查尔斯 伊伯利;鲁伯米 里昂 札斯特若伯斯基
分类号 H01L21/04 主分类号 H01L21/04
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项 1.制造一多个相当密集之金属氧化物半导体场效应电晶体于一基体上之方法,其创新事项包括:于上述基体表面形成一具有多个垂直壁孔隙之场氧化物,及于每一孔隙内形成一金属氧化物半导体场效应电晶体。2.根据上述请求专利部份第1.项之方法,其中包括:于上述基体表面形成一层二氧化矽;及以各向异性力式蚀除二氧化矽层之部份似形成场氧化物。3.根据上述请求专利部份第1.项之方法,包括:于每一孔隙内以有选择性之晶膜法生长一单晶半导体区域。4.根据上述请求专利部份第3.项之力法,其中:上述单晶区域为矽及实质上系与场氧化物大致同平。5.根据上述请求专利部份第1.项之方法,后包括:提供一相当加重掺杂之基体以减低其中电荷载体寿命。6.根据上述请求专利部份第1.项之方法,后包括:提供一包含氧沉淀物之基体。7.根据上述请求专利部份第5.项之方法,后包括:提供一包含氧沉淀物之基体。
地址 美国新泽西州普林斯顿巿