发明名称 重放或记录器具中光电扫描器输出信号之处理方法及装置
摘要 一种重放或记录器具中光电扫描器(3)输出信号A至F之处理方法,用于光学记录介质之重放或记录,具有如下方法步骤:以及具有数位式伺服控制器的相对应输入电路之器具:首先,将输出信号A至F直接供应至A/D转换器(2),不介置低通滤波器,并以n倍过度抽样加以数位化。数位化输出信号再供至k阶梳形滤波器(4),由此进行至正常抽样频率(44.1仟赫)的信号之不足抽样。然后,梳形滤波器的不足抽样输出信号A'至F',供应至修整和校正电路(6),在此分别进行「偏差」和「均衡」的修整和校正,最后,修整/校正过的输出信号A"到F"供至数位式伺服电路(1)之修整和校正电路,由此产生聚焦误差信号(FE)和磁轨偏向误差信号(TE)。(图2)。
申请公布号 TW359815 申请公布日期 1999.06.01
申请号 TW086112212 申请日期 1997.08.26
申请人 德意志汤森布兰特公司 发明人 谢恩曼
分类号 G11B7/09 主分类号 G11B7/09
代理机构 代理人 王宝莅 台北巿民权东路三段一四四号一五二六室
主权项 1.一种重放或记录器具中光电扫描器(3)输出信号之处理方法,以供光学记录介质之重放或记录,其特征为,包含下列方法步骤:(a)输出信号(A、B、C、D、E、F)直接供应至类比/数位转换器(2),并以n倍过度抽样加以数位化,(b)扫描器的数位化输出信号(A、B、、C、D、E、F)供应至第k阶梳形滤波器(4),进行信号对正常抽样频率的抽样不足,(c)梳形滤波器(4)的抽样不足输出信号(A'、B'、C'、D'、E'、F')供应至修整和校正电路(6),在其中分别进行「偏差」和「均衡」的修整和校正,以及(d)修整和校正电路(6)之修整/校正输出信号(A"、B"、C"、D"、E"、F")供应至数位式伺服电路(1),由此产生聚焦控制环路或追踪控制环路之控制信号者。2.如申请专利范围第1项之方法,其中扫描器(3)的输出信号(A、B、C、D、E、F)系以48倍过度抽样加以数位化者。3.如申请专利范围第1或2项之方法,其中光电扫描器(3)系以三个扫描光束操作,并供应相对应不同输出信号(A、B、C、D、E、F),形成合量信号(A+C,B+D),经方法步骤(a)至(d)者。4.如申请专利范围第3项之方法,其中由修整和校正合量信号((A+C)"和(B+D)")间之差异,形成聚焦误差信号,而由修整和校正输出信号(E",F")间的差异,形成磁轨误差信号者。5.如申请专利范围第1项之方法,其中在转移函数分成IIR部份和FIR部份的梳形滤波器(4)中,IIR部份的记忆器模组(5')都在n次抽样处理后,利用「复置」命令加以复置者。6.一种光学记录介质重放或记录用之重放或记录装置,具有光电扫描器(3),数位式伺服控制器(1),有输入电路以供处理光电扫描器(3)之输出信号(A、B、C、D、E、F),其特征为,装置具有类比/数位转换器(2),扫描器(3)的输出信号(A、B、C、D、E、F)供应于此,此等输出信号并藉此以n倍过度抽样加以数位化;第k阶梳形滤波器(4),类比/数位转换器(2)之数位化输出信号(A、B、C、D、A+C、B+D、E、F)供应于此,做为输入信号,并提供抽样不足的输出信号(A'、B'、C'、D'、(A+C)'、(B+D)'、E'、F');以及修整和校正电路(6),抽样不足的输出信号(A'、B'、C'、D'、(A+C)'、(B+D)'、E'、F')供应于此,做为输入信号,并提供修整和/或校正输出信号(A"、B"、C"、D"、(A+C)"、(B+D)"、E"、F"),可做为数位式伺服控制器(1)之输入信号者。7.如申请专利范围第6项之装置,其中梳形滤波器(4)含有第一IIR滤波器阶段(8),与第一FIR滤波器阶段(10)连接者。8.如申请专利范围第6或7项之装置,其中梳形滤波器(4)含有记忆器模组(5'),其内容可利用「复置」命令加以复置者。9.如申请专利范围第7项之装置,其中可复置之记忆器模组(5')为IIR滤波器阶段(8)之一部份者。10.如申请专利范围第8项之装置,具有第二阶梳形滤波器(4),有二个IIR和二个FIR滤波器阶段,其中可复置的记忆器模组(5')以IIR滤波器结构,实施第二IIR滤波器阶段(12)和第一FIR滤波器阶段(14)之功能者。图式简单说明:第一图为数位式伺服控制器的输入电路图;第二图为本发明器具的数位式伺服控制器之输入电路图;第三图为抽样不足的第二阶梳形滤波器图;第四图为第三图所示梳形滤波器之最适设计。
地址 德国