| 主权项 |
1﹒一种发光二极体测试机,包括有:复数组电性测试装置,具有一供置放发光二极体排体之支架座呈斜向设置,其上设有光电控制指示面板以控制各部份机构之动作,于支架座顶边设有一气压缸,于气压缸轴端设有系列之探针以对发光二极体之接脚接触检测电性,于支架座之下方设有一回转缸,该回转缸轴延伸至支架座之二侧,并在二侧之回转缸轴各固设有一筒体及一顶推气压缸,又于支架座之后面枢设于另外之气压缸缸轴,另设有一二侧具有轴杆之校正器而将其轴杆套入筒体内呈可轴向移动,该校正器之上方设有系列之洞孔供至于各发光二极体,其整体藉由横向仔压缸驱动而可作横向移动于上料区及亮度检测装置之间;复数组亮度检测装置,具有一固定臂,于固定臂之上端设有一光电感知器呈近距地垂直于固定在支架座上之发光二极体,而下端固定于一滑块,该滑块设有螺孔及螺杆机构而藉由马达驱动移动,以使光电感知器对每一发光二极体检测亮度;输送装置,具有一藉由直立气压缸控制垂直上下移动及启闭之夹爪,且在直立气压缸轴端设有回转缸,以将检测亮度完成之发光二极体排体夹起并转向后,藉由横向气压缸输送至裁切装置;裁切装置,具有一可转向之夹爪机构以夹接由输送装置送至之发光二极体排体,并进一步将发光二极体排体输送至切刀机构以分别裁切各发光二极体之接脚;级别分类装置,具有若上方为开口之槽体呈圆周排列,于其中心设有一弯曲之输导管,使输导管之上端对应于切刀处,而输导管之弯曲半径的回转范围则涵盖于各槽体之上开口,并在输导管之下面设有一伺服马达以控制输导管旋转至预定槽体位置。2﹒依据申请专利范围第1项所述之发光二极体测试机,其中该支架座系呈45斜向设置。3﹒依据申请专利范围第1项所述之发光二极体测试机,其中该校正器系以人工套配于各发光二极体,待亮度检测完成后,再由顶推气压缸将校正器推开,并由回转缸驱使校正器回转成水平状态,且藉由气烟缸205将支架座推起呈水平而发光二极体呈垂直。4﹒依据申请专利范围第1项所述之发光二极体测试机,其中该光电控制指示面板具有不良品红外线光笔讯号接收灯、动作指示灯柔红外线光笔讯号动作接收灯,藉由光笔接触于特定之红外线光笔讯号动作接收灯而经由电脑控制电性测试装置之动作。5﹒依据申请专利范围第1项所述之发光二极体测试机,其中该亮度检测机构中之螺孔螺杆机构,系藉由步进马达驱动螺杆作相同于二发光二极体间距之间歇转动,进而使光电感知器以间歇方式对发光二极体作检测。6﹒依据申请专利范围第1项所述之发光二极体测试机,其中设于裁切装置之夹爪机构包括有一枢接之转动座,另设有回转缸以控制夹爪在夹取发光二极体排体时即回转成水平状态,于转动座上设有一组藉由气压控制启闭之夹爪,及一顶推气压缸,而转动在之下方设有一具螺孔之导块,且藉由螺杆与导块之螺孔配合,并藉由步进马达驱动螺杆作间歇性转动而使夹爪间歇地移轴至切刀机构而切断发光二极体接脚,最后由顶推气压缸将废料排出。7﹒依据申请专利范围第1项或第4项所述之发光二极体测试机,该电性测试装置之检测结果经由光笔接触红外线光笔讯号动作接收灯后,乃由电脑记忆,并传输讯号至切刀机构以对良品裁切。8﹒依据申请专利范围第1项或第5项所述之发光二极体测试机,该光电感知器系依序检测良品发光二极体之亮度,并依亮光之程度而分级且由电脑记忆,同时传输讯号至级别分类装置之步进马达,使良品之发光二极体接脚依序裁断后由何服马达驱动输导管之下端回转对应于特定级别之槽体以收集发光二极体。9﹒依据申请专利范围第1项所述之发光二极体测试机,该亮度检测装置、输送装置、裁切装置与级别分类装置均设有二组并分别设于二侧,而电性检测装置亦设有二组,藉由横向气压缸驱动使其中之一组移位至亮度检测机构,而另一组在同时移位至上料区。图示简单说明:图一为立体外观图,乃显示本创作之整体形态;图二为局部立体图,乃显示本创作之支架座之结构;图三为平面动作图,乃显示本创作之支架座试测发光二极体接脚之情况;图四为平面动作图,乃显示本创作之支架座将校正架套于各发光二极体,且亮度测试头靠近发光二极体作亮度检测之情况;图五为平面剖视图,乃显示测试头之驱动机构;图六为平面动作图,乃显示亮度测试头测试完成后,枚正架经由推顶气压缸推起,并由回转缸回转呈水平状;图七为平面动作图,乃显示输送装置之夹爪将亮度检测完成之发光二极体夹起,并移送至裁切装置;图八为立体图,乃显示裁切装置之结构图九为平面动作图,乃显示裁切装置之夹爪之驱动机构,及切刀对发光二极体接脚裁切之情况;且图十为立体图,乃显示分类集中槽之整体形态及其与输导管之位置关系。 |
