| 主权项 |
1.一种记忆体测试机与积体电路分类机之直接连接界面装置,适用于连接一记忆体测试机与一积体电路分类机,其中该积体电路分类机之连接面具有一测试夹具、一喂料飞梭活动区与一分配器活动区,且该喂料飞梭活动区位于该分配器活动区之上方,该测试夹具位于该喂料飞梭活动区与该分配器活动区之间,该直接连接界面装置包括:一主体底板,该主体底板具有一第一对位结构与一第一固定结构,且该主体底板设置于该积体电路分类机之连接面上,其中该主体底板之上缘低于该喂料飞梭活动区,且该主体底板具有一开口,该开口暴露出该分配器活动区;一印刷电路板,其中该印刷电路板之一面设置于该记忆体测试机上,且该印刷电路板之另一面适于电性连接该测试夹具;一第二对位结构,设置于该记忆体测试机上,该第二对位结构适于与该第一对位结构相对位嵌合;以及一第二固定结构,设置于该记忆体测试机上,该第二固定结构适于可拆拆卸式连接于该第一固定结构。2.如申请专利范围第1项所述之记忆体测试机与积体电路分类机之直接连接界面装置,其中该主体底板包括金属板。3.如申请专利范围第1项所述之记忆体测试机与积体电路分类机之直接连接界面装置,其中该印刷电路板包括一双面多层电路板。4.如申请专利范围第1项所述之记忆体测试机与积体电路分类机之直接连接界面装置,其中该第一对位结构具有一凸块,则该第二对位结构具有一凹槽,且该凸块相对位嵌合于该凹槽。5.如申请专利范围第1项所述之记忆体测试机与积体电路分类机之直接连接界面装置,其中该第一对位结构具有一凹槽,则该第二对位结构具有一凸块,且该凹槽相对位嵌合于该凸块。6.如申请专利范围第1项所述之记忆体测试机与积体电路分类机之直接连接界面装置,其中该第一固定结构与该第二固定结构包括一对可拆卸式且互相连接的扣件。7.一种记忆体测试机与积体电路分类机之直接连接界面装置,适用于连接一记忆体测试机与一积体电路分类机,其中该积体电路分类机之连接面具有一测试夹具、一喂料飞梭活动区与一分配器活动区,且该喂料飞梭活动区位于该分配器活动区之上,该测试夹具位于该喂料飞梭活动区与该分配器活动区之间,该直接连接界面装置包括:一主体底板,该主体底板具有一第一对位结构与一第一固定结构,且该主体底板设置于该积体电路分类机之连接面上,其中该主体底板之上缘低于该喂料飞梭活动区,且该主体底板具有一开口,该开口暴露出该分配器活动区;一第二对位结构,设置于该记忆体测试机上,该第二对位结构适于与该第一对位结构相对位嵌合;以及一第二固定结构,设置于该记忆体测试机上,该第二固定结构适于可拆拆卸式连接于该第一固定结构。8.如申请专利范围第7项所述之记忆体测试机与积体电路分类机之直接连接界面装置,其中更包括于该记忆体测试机设置一印刷电路板,且该印刷电路板之一面设置于该记忆体测试机上,另一面适于电性连接该测试夹具。9.如申请专利范围第8项所述之记忆体测试机与积体电路分类机之直接连接界面装置,其中该印刷电路板包括双面多层电路板。10.如申请专利范围第7项所述之记忆体测试机与积体电路分类机之直接连接界面装置,其中该主体底板包括金属板。11.如申请专利范围第7项所述之记忆体测试机与积体电路分类机之直接连接界面装置,其中该第一对位结构具有一凸块,则该第二对位结构具有一凹槽,且该凸块相对位嵌合于该凹槽。12.如申请专利范围第7项所述之记忆体测试机与积体电路分类机之直接连接界面装置,其中该第一对位结构具有一凹槽,则该第二对位结构具有一凸块,且该凹槽相对位嵌合于该凸块。13.如申请专利范围第7项所述之记忆体测试机与积体电路分类机之直接连接界面装置,其中该第一固定结构与该第二固定结构包括一对可拆卸式且互相连接的扣件。图式简单说明:第1图所绘示为记忆体测试机与积体电路分类机的连接示意图;第2图所绘示为习知一种连接记忆体测试机与积体电路分类机的连接装置的侧面局部放大示意图;第3图所绘示为习知另一种连接记忆体测试机与积体电路分类机的连接装置的侧面局部放大示意图;第4图所绘示为本创作较佳实施例之连接记忆体测试机与积体电路分类机的直接连接界面装置的侧面局部放大示意图;第5图所绘示为本创作较佳实施例之直接连接界面装置,装设于积体电路分类机侧的连接面示意图;以及第6图所绘示为本创作较佳实施例之直接连接界面装置,装设于记忆体测试机侧的连接面示意图。 |
