| 发明名称 |
PLATE THICKNESS METERING METHOD FOR RADIOACTIVE RAY THICKNESS METER |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS54106266(A) |
申请公布日期 |
1979.08.21 |
| 申请号 |
JP19780012944 |
申请日期 |
1978.02.09 |
| 申请人 |
TOKYO SHIBAURA ELECTRIC CO |
发明人 |
OKINO TAKAAKI;FURUKAWA HIROSHI |
| 分类号 |
G01B15/02;G01B21/08;G01N23/06 |
主分类号 |
G01B15/02 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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