发明名称 |
用于交替的封装功能的微电子衬底 |
摘要 |
本公开内容涉及被制造为具有重叠的连接区的微电子衬底,例如插入器、主板、测试平台等,以使得不同的微电子设备(例如微处理器、芯片组、图形处理设备、无线设备、存储器设备、专用集成电路等)可以交替地连接到微电子衬底,以形成功能的微电子封装。 |
申请公布号 |
CN106057769A |
申请公布日期 |
2016.10.26 |
申请号 |
CN201610364334.6 |
申请日期 |
2012.06.04 |
申请人 |
英特尔公司 |
发明人 |
M·A·侯赛因;C·C·李;D·W·布朗宁;I·M·派因斯;B·P·凯利 |
分类号 |
H01L23/498(2006.01)I;H05K1/11(2006.01)I;H05K3/34(2006.01)N |
主分类号 |
H01L23/498(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
张伟;王英 |
主权项 |
一种微电子装置,包括:衬底,其具有第一表面;多个接触连接盘,其形成在所述衬底的第一表面上;第一接触区,所述多个接触连接盘中的一部分被限定在所述第一接触区中;第二接触区,所述多个接触连接盘中的至少一部分被限定在所述第二接触区中,其中第一接触区与所述第二接触区的至少一部分重叠,其中至少一个接触连接盘在所述多个接触连接盘中的在所述第一接触区中的所述部分与所述多个接触连接盘中的在所述第二接触区中的所述部分之间是公共的,并且其中所述多个接触连接盘中的在所述第一接触区中的所述部分内限定的至少一个接触连接盘与所述多个接触连接盘中的在所述第二接触区中的所述部分是非公共的;以及第一微电子设备或第二微电子设备,其中所述第一微电子设备连接到所述多个接触连接盘中的在所述第一接触区中的所述部分内的所有接触连接盘,所述第二微电子设备连接到所述多个接触连接盘中的在所述第二接触区中的所述部分内的所有接触连接盘。 |
地址 |
美国加利福尼亚 |