发明名称 一种X射线冷光计算机断层扫描实验系统及方法
摘要 本发明涉及计算机控制技术领域,具体涉及一种X射线冷光计算机断层扫描实验系统,本发明包括:环形轨道,所述环形轨道上接有直线轨道,所述直线轨道的两末端分别与环形轨道相接,所述环形轨道上活动设置有第一支架,所述第一支架上设有相机,所述相机朝向环形轨道的内侧,所述直线轨道上分别活动设置有第二支架和第三支架,所述第二支架上设有X射线源,所述第三支架上设有样品存放部,所述X射线源的发光端设置于样品存放部的前方,且与该样品存放部相对准,所述样品存放部的后方设有X射线探测器。本发明在不伤害实验人的情况下,可以对成像系统进行操作,不用反复开关X射线源,从而解决实验操作不便的问题。
申请公布号 CN106066339A 申请公布日期 2016.11.02
申请号 CN201610451484.0 申请日期 2016.06.21
申请人 中国科学院深圳先进技术研究院 发明人 陈昳丽;符吉祥;李栓;刘云;储大为;江帆;谢耀钦;王磊
分类号 G01N23/223(2006.01)I 主分类号 G01N23/223(2006.01)I
代理机构 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 代理人 郝明琴
主权项 一种X射线冷光计算机断层扫描实验系统,其特征在于,包括:环形轨道,所述环形轨道上接有直线轨道,所述直线轨道的两末端分别与环形轨道相接,所述环形轨道上活动设置有第一支架,所述第一支架上设有相机,所述相机朝向环形轨道的内侧,所述直线轨道上分别活动设置有第二支架和第三支架,所述第二支架上设有X射线源,所述第三支架上设有样品存放部,所述X射线源的发光端设置于样品存放部的前方,且与该样品存放部相对准,所述样品存放部的后方设有X射线探测器。
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