| 摘要 |
Спосіб визначення робочого перегріву кристала напівпровідникового діода за рівнем зниження прямого падіння напруги, що включає вимірювання калібрувальної залежностіпри постійному прямому струмікрізь діод і температурах, прямої вольт-амперної характеристики (ВАХ) діодапри заданій температурі експлуатації; і перебудову її у виглядіз обчисленням перегрівув залежності від значення робочого струму діодаі координат точки переходу лінійної ділянки ВАХ до нелінійної, причому калібрувальну залежністьзнімають при струмаху межах лінійної ділянки ВАХ, де- струмова координата точки переходу лінійної ділянки залежностідо нелінійної, а величинувизначають за формулою:,де- диференційна струмова термочутливість, виміряна на калібрувальній залежності,,,,,- координати напруги, відповідно, точки переходу лінійної ділянки ВАХ до нелінійної, точки перетину прямоїз прямою (променем), що є продовженням лінійної ділянки ВАХ в область значеньі точки перетину прямоїз вольт-амперною характеристикою. |
