| 主权项 |
1.一种发光二极体测试机台之自动化结构,其主要系由一组进料结构、一定位测试结构及一组出料结构所组成,一组进料结构系由下列各构件所组成:其进料端为一圆形振动盘,并有一平行振动盘如轨道般与其相连接,且该平行振动盘延伸至测试区前端,并恰可与测试组前端相连接;该平行振动盘向前延伸至测试端前方之适当处时,上方设置有一挡爪,该挡爪系为一由弹簧联动可供开合并具挡置发光二极体之作用;挡爪上方适当处设置有一辅助进料送风口,其与空气输送管连接,并有持续送风且可将发光二极体向前吹置之作用;平行振动盘下方与挡爪相对位置之前端适当处,设置有一进料夹爪组,其系由特殊凸轮(兼具板凸轮及筒凸轮效用者)产生联动,藉以控制进料夹爪组之闭合及其前后往复运动;挡爪末端适当处设置有一导正爪,该导正爪侧面与平行振动盘之轨道相对位置有一ㄇ字型之挡置孔,其前端面亦有一相同大小之ㄇ字型导正孔;导正爪后端设置有一带料爪组,其呈一倒L型,前端立面处设置有数个等距缺口;一组定位测试结构系由下列各构件所组成:一定位爪组,系设置于带料爪组对面之相对位置,其呈一E字型,凸出之三爪之前端分别设有一内凹之定位口,并与各测试站相对应;定位爪组之正下方为一测试组,其前端恰可与平行振动盘之末端相连接,该测试组上方呈三个测试站,第一测试站下设一极性测试框脚探针座,第二测试站下为一旋转座,该旋转座下接一由空气致动之汽缸,第三测试站下方为另一框脚探针座,其主要系由该框脚探针座与发光二极体之针脚产生极性接触,并配合上方之亮度波长检测头,以检测该受测发光二极体之亮度及光波长;再者,第三测试站之一端并设置有一凸起之定位柱;一组出料结构系接设于测试区之末端,其系由下列各构件所组成:一胶质履带,其内侧有等宽之凹槽,可供与传动齿轮相啮合,并有数个出料座等距卡持于履带上;出料座为一倒L型之承接座,上方有一宽度及深度适中之沟槽;数座气动推杆,装设于出料座后方,与各出料座相对应;由上述之进料结构、定位测试结构及出料结构所组而成之发光二极体测试机台之自动化结构者。2.如申请专利范围第1项所述之发光二极体测试机台之自动化结构,其中:该进料结构中之带料爪系以周而复始之方型旋绕方式将受测之料件由进料区带入受测区,并于料件受测完毕后将其带入出料区者。3.如申请专利范围第1项所述之发光二极体测试机台之自动化结构,其中:该定位测试结构系设置有三个定位点,其一为极性测试,另一为旋转座,另一为光亮度及光波长测试者。4.如申请专利范围第1项所述之发光二极体测试机台之自动化结构,其中:该出料结构系以履带移行出料座,并使其能定时且定速移行以承接受测完毕之料件者。5.如申请专利范围第1项所述之发光二极体测试机台之自动化结构,其中:该进料夹爪组,其系由特殊凸轮(兼具筒凸轮及板凸轮效用)产生联动,能同时控制进料夹爪组之闭合及其前后往复运动者。6.如申请专利范围第1项所述之发光二极体测试机台之自动化结构,其中:该测试站下方之旋转座,下接一由空气致动之汽缸,其旋转与否乃取决于第一测试站之框脚探针座检测之结果,若不符合测试之极性方向,则由空气致动汽缸,并使其产生180度之旋转者。7.如申请专利范围第1项所述之发光二极体测试机台之自动化结构,其中:定位爪之一下设置有极性测试框脚探针可供探测受测之发光二极体之针脚极性者。8.如申请专利范围第1项所述之发光二极体测试机台之自动化结构,其中:第三测试站之一端设置有一凸起之定位柱,以使发光二极体于受测时,可形由定位爪内凹之两边及定位柱形成三点夹住受测之发光二极体,使其不会有倾斜受测之虞者。9.如申请专利范围第1项所述之发光二极体测试机台之自动化结构,其中:该气动推杆之作动系利用空气压力作动者。10.如申请专利范围第1项所述之发光二极体测试机台之自动化结构,其中:该导正爪侧面与平行振动盘之轨道相对位置设置有一ㄇ字型之挡置孔,其前端面亦有一相同大小之ㄇ字型导正孔者。11.一种进料夹爪组,系由夹爪、凸轮、纵向传动轮、弹簧及横向传动轮所组成,核弹簧系一端与夹爪下方连接,另一端与纵向传动轮相连接,系可致动夹爪;该纵向传动轮之端面系与凸轮之横向端面相接触;又,该横向传动轮系与惰轮之纵向端面相接触;再者该凸轮之纵向端面系呈一特殊不规则之端面,即该端面为一有起伏之端面,故可呈一特殊动线之筒凸轮,当凸轮转动时,其特殊之动线可联动横向传动轮,使进料夹爪组产生前后之往复动作,另,该凸轮转动时其横向端面亦可同时联动纵向传动轮,并藉凸轮偏心之转动以致动夹爪,使其产生开合之作用者。12.一种发光二极体测试机台之自动化结构之进料结构,其进料端为一圆形振动盘,并有一平行振动盘如轨道与其相连接,且该平行振动盘延伸至测试区前端,并恰可与测试组前端相连接;该平行振动盘向前延伸至测试端前方之适当处时,上方设置有一挡爪,该挡爪系为一由弹簧联动可供开合并具挡置发光二极体之作用;挡爪上方适当处设置有一辅助进料送风口,其与空气输送管连接,并有持续送风且可将发光二极体向前吹置之作用;平行振动盘下方与挡爪相对位置之前端适当处,设置有一进料夹爪组,其系由特殊凸轮产生联动,藉以控制进料夹爪组之闭合及其前后往复运动;挡爪末端适当处设置有一导正爪,该导正爪侧面与平行振动盘之轨道相对位置设置有一ㄇ字型之挡置孔,其前端面亦有一相同大小之ㄇ字型导正孔;导正爪后端设置有一带料爪组,其呈一倒L型,前端立面处设置有数个等距缺口;由上述各构件所组成之发光二极体测试机台之自动化结构之进料结构者。13.如申请专利范围第12项所述之发光二极体测试机台之自动化结构之进料结构,其中;系利用其带料爪以以周而复始之方型旋绕作动,将受测之料件由进料区带入受测区,并于料件受测完毕后将其带入出料区者。14.如申请专利范围第12项所述之发光二极体测试机台之自动化结构之进料结构,其中:该进料夹爪组,其系由一横向端面为板凸轮,纵向端面为筒凸轮之凸轮产生联动,并能同时控制进料夹爪组之闭合及其前后往复运动者。15.一种发光二极体测试机台之自动化结构之定位测试结构,包含:一定位爪组,其呈一E字型,凸出之三爪之前端分别设有一内凹之定位口,并与各测试站相对应;第一定位口下接一极性测试框脚探针座,第二定位口下接一旋转座,第三测试站下方为另一框脚探针座;一测试组,设置于定位爪组之正下方,其前端恰可与平行振动盘之末端相连接,该测试组上方呈三个测试站,第一测试站为极性测性,第二测试站下为一旋转座,再者,第三测试站之一端并设置有一凸起之定位柱,由上述各构件所组成之发光二极体测试机台之自动化结构之定位测试结构者。16.如申请专利范围第15项所述之发光二极体测试机台之自动化结构之定位测试结构,其中:该测试组之旋转座下接一由空气致动之汽缸,其旋转与否乃取决于第一测试站之框脚探针座检测之结果者。17.如申请专利范围第15项述之发光二极体测试机台之自动化结构之定位测试结构,其中:第三测试站之一端并设置有一凸起之定位柱者。18.一种发光二极体测试机台之自动化结构之出料结构,其系由下列各构件所组成:一胶质履带,其内侧有等宽之凹槽,可供与传动齿轮相啮合,并有数个出料座等距卡持于履带上;出料座为一倒L型之承接座,上方有一宽度及深度适中之沟槽,该沟槽可承接受测完毕之料件;数座气动推杆,装设于出料座后方,与各出料座相对应,由上述各构件所组成之发光二极体测试机台之自动化结构之出料结构者。19.如申请专利范围第18项所述之发光二极体测试机台之自动化结构之出料结构,其中:该履带可为金属材质者。20.如申请专利范围第18项所述之发光二极体测试机台之自动化结构之出料结构,其中:该出料座系随履带等时及等速移行者。21.如申请专利范围第18项所述之发光二极体测试机台之自动化结构之出料结构,其中:该气动推杆之作动系利用汽缸致动者。图式简单说明:图一 本创作之立体外观图图二 出料结构立体外观图图三 本创作之出料流程示意图图四 本创作之出料流程示意图图五 进料夹爪组之结构平面示意图图六 进料夹爪组之结构作动示意图图七 导正爪结构之立体外观图图八 带料爪组之立体外观图图九 定位爪组之立体外观图图十 框脚探针座测试示意图图十一 旋转结构之立体外观图图十二 定位爪组三点定位示意图图十三 气动推杆之立体外观图图十四 气动推杆之作动示意图 |
