发明名称 METHOD FOR TESTING ELECTRIC PRODUCTS
摘要 프로브와 배선의 사이에 위치 어긋남이 있어도 안정된 콘택트를 얻을 수 있음과 동시에 배선피치가 적게 되어도 프로브가 이웃의 배선에 접촉하는 일이 없는 검사방법을 제공한다. 복수의 배선(24)은 서로 평행하게 X방향으로 늘어져 있고, Y방향으로 간격을 두고 소정의 피치로 늘어서 있다. 배선(24)은 프로브(22)가 접촉하기 위한 접촉영역(26)과 그 접촉영역(26)보다 높이가 낮은 요부(28)를 구비하고 있다. Y방향에 있어서 접촉영역(26)의 인접부분에는 요부(28)가 오도록, 요부(28)는 지그재그배열로 되어 있다. 프로브(22)의 선단에는 접촉체(30)가 있고, 이 접촉체(30)의 Y방향의 치수는 배선피치보다 크게 되어있다. 프로브(22)와 배선(24)의 사이에 위치 어긋남이 있어도, 접촉체(30)는 배선(24)의 접촉영역(26)에서 벗어나는 일이 없고, 또한 접촉체(30)는 인접한 배선(24)에 접촉하는 일도 없다.
申请公布号 KR101667789(B1) 申请公布日期 2016.10.28
申请号 KR20100034491 申请日期 2010.04.14
申请人 가부시끼가이샤 니혼 마이크로닉스 发明人 나리따 사또시
分类号 G01R1/067;G01R1/04;G01R1/073;G01R31/28 主分类号 G01R1/067
代理机构 代理人
主权项
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