Contact probe assembly for integrated circuits.

摘要

Die Anordnung besteht aus einem Trennstück (36; 60) mit beiderseitigen Führungselementen (10 - 16). in denen die Kontaktsonden (34) geführt sind. Die freie Länge der Kontaktsonden (34) zwischen den Führungselementen (10 - 16) ist beim Wirksamwerden axialer Kontaktkräfte auslenkbar, und ihre Auslenkrichtung ist durch Versetzting der Führungselementpaare (10, 12) und/oder durch eine asymmetrische Führungsscheibe (68) im Bereich des Trennstückes (60) einheitlich bestimmt.