发明名称 método para analisar e diagnosticar sistemas de controle de automatização de processo em grande escala
摘要 método para analisar e diagnosticar sistemas de controle de automatização de processo em grande escala a presente invenção refere-se a um método para analisar e diagnosticar um sistema de controle de automatização de processo em grande escala que tem uma pluralidade de laços de controle. avaliações para indicadores chave de desempenho (kpis) predefinidos são automaticamente geradas para secções de sinal, processo e controle de cada laço de controle. as avaliações automaticamente geradas dos kpis predefinidos podem ser exibidas em uma interface gráfica de usuário (gui) de um computador. um usuário pode mudar as avaliações automaticamente geradas dos kpis predefinidos. vistas de dados diferentes também podem ser exibidas no gui. as vistas de dados incluem tendências de séries temporais para variável de processo medida, saída de controlador, ponto fixo do controlador e erro, assim como vistas em agrupamento de parâmetro de controlador em plotagens bidimensionais e tridimensionais.
申请公布号 BR112013018425(A2) 申请公布日期 2016.10.11
申请号 BR20131118425 申请日期 2012.01.24
申请人 ABB INC. 发明人 KEVIN DALE STARR;ROBERT TRENT GARVERICK;THIMOTHY ANDREW MAST
分类号 G05B23/02 主分类号 G05B23/02
代理机构 代理人
主权项
地址