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发明名称 Verfahren zur Kontrolle der ferroelektrischen Domänen eines nichtlinearen optischen Substrates
摘要
申请公布号 DE69026766(T2) 申请公布日期 1996.11.28
申请号 DE19906026766T 申请日期 1990.07.13
申请人 SONY CORP., TOKIO/TOKYO, JP 发明人 YAMADA, MASAHIRO, 6-CHOME, SHINAGAWA-KU, TOKYO, JP;KISHIMA, KOICHIRO, 6-CHOME, SHINAGAWA-KU, TOKYO, JP
分类号 G02F1/355;G02F1/37;G02F1/377;(IPC1-7):G02F1/35 主分类号 G02F1/355
代理机构 代理人
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