| 发明名称 | 探针测试卡 | ||
| 摘要 | 本实用新型提供了一种探针测试卡,包括一电路板、复数个电极及复数条探针,其中该复数个电极设于该电路板上,且该探针的一端分别连接该电极,另一端悬空,可用以侦测芯片,而本实用新型的特征是在于该电极可呈纵向、横向或斜向平行方向排列,使该探针连接时好规划,制造出顺序性的配线,不易有跳线及割线的情形发生,且维修保养容易,进而减少除错工时。 | ||
| 申请公布号 | CN2466661Y | 申请公布日期 | 2001.12.19 |
| 申请号 | CN01203939.X | 申请日期 | 2001.02.05 |
| 申请人 | 陈文祺 | 发明人 | 陈文祺 |
| 分类号 | G01R1/073;G01R31/28;H01L21/66 | 主分类号 | G01R1/073 |
| 代理机构 | 北京集佳专利商标事务所 | 代理人 | 王学强 |
| 主权项 | 1、一种探针测试卡，包括：一电路板；复数个电极，设于该电路板上；及复数条探针，其一端分别连接该电极，另一端悬空可用以侦测芯片；其特征在于：该电极呈平行方向排列。 | ||
| 地址 | 中国台湾 | ||