发明名称 半导体中用于形成绝缘层之方法
摘要 本发明系关于一种半导体装置中用以形成绝缘层的方法。当第一氧化物薄膜在沟槽内形成后,使用含氟气体对第一氧化物薄膜进行蚀刻处理,蚀刻处理中留在第一氧化物薄膜内的杂质,藉使用氧电浆或氢电浆而被剥离开。因此,不需额外的设备,便能避免装置特性因杂质扩散而变差。所以,能帮助改善下世代装置的可靠度。
申请公布号 TW200534405 申请公布日期 2005.10.16
申请号 TW093119316 申请日期 2004.06.30
申请人 海力士半导体股份有限公司 发明人 柳春根
分类号 H01L21/469 主分类号 H01L21/469
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 韩国